德國HOMMEL T8000RC粗糙輪廓度儀
簡要描述:
德國HOMMEL T8000RC粗糙輪廓度(du)儀
產品(pin)時間:2020-03-12
霍梅爾T8000RC粗糙輪(lun)廓度儀zui大的(de)特點是兩(liang)(liang)個探(tan)測(ce)(ce)系(xi)(xi)統(tong)的(de)智能(neng)化布置,所以組合(he)測(ce)(ce)量非常*。粗糙度和(he)輪(lun)廓通過兩(liang)(liang)個單獨(du)的(de)探(tan)測(ce)(ce)系(xi)(xi)統(tong)測(ce)(ce)定(ding)。
粗(cu)糙度(du)測(ce)(ce)頭(tou)通過套筒定位,甚至(zhi)是(shi)一些難以達到的測(ce)(ce)量位置(zhi)。輪(lun)(lun)廓(kuo)測(ce)(ce)頭(tou)的更換(huan)簡單,必要時(shi)輪(lun)(lun)廓(kuo)側頭(tou)和(he)粗(cu)糙度(du)測(ce)(ce)頭(tou)可并行運行。
技術特點 | 主要(yao)特點 |
?粗糙度和輪廓通用的(de)測量系(xi)統 | ?粗糙度測(ce)量和輪(lun)廓測(ce)量采用統一操(cao)作界面(mian) |
?探測系(xi)統更換簡單 | ?能夠計算所有(you)常(chang)見的表面輪廓、粗糙度和波紋(wen)度特征數據(90多個) |
?在整個進(jin)給長度(du)內(nei)部都可以測(ce)量粗糙度(du) | ?可評價(jia)幾(ji)何項目(mu),如距離(li)、角度和半徑(jing) |
?測頭(tou)電動(dong)抬(tai)起(qi)/下降(jiang),所以測量流(liu)程自(zi)動(dong) | ?測(ce)量(liang)粗糙度、波紋度和輪廓度時的探(tan)測(ce)距離是120mm |
?粗糙度測頭既可(ke)與上面(mian)的套筒連接,也可(ke)安(an)裝在進(jin)給裝置的下方 | ?在(zai)一個測(ce)量報告內(nei)評價粗糙(cao)度和輪(lun)廓(kuo)特征數據 |
?進給導(dao)軌的精度(du)高(gao),并配置了(le)數字(zi)光柵(zha)尺,所以結果精確 |
wavecontour™digital輪廓探測系統,行程120mm,帶數字探測系統 | 精密測量粗糙(cao)度,測頭的(de)選(xuan)擇范圍大(da),可(ke)以滿足不同的(de)測量需求 |
霍(huo)梅爾-艾達米克T8000RC
選項 | 供(gong)貨范圍 |
?通過電動傾斜單元和CNC軟件實現完整的CNC功能 ?VDA和戴姆勒(le)奔(ben)馳公司標準的特(te)殊參數 ?螺(luo)紋紋路(lu)測量:測量粗糙度時可在切(qie)線方向進(jin)行旋轉進(jin)給,螺(luo)旋紋路(lu)軟(ruan)件 ?工(gong)件(jian)表面形貌(mao)測量(liang):電動Y向定位臺和軟件(jian)HOMMEL MAP,用于3D特征數據的顯示和評價 ?經過(guo)認(ren)證的qs-STAT接口(AQDEF)。 ?輪廓標準塊(kuai)KN8 ?wavecontrol™basic操作面板 ?儀器臺GTR
| ?帶(dai)22"TFT顯示屏的評(ping)價電腦(nao),CD刻(ke)錄器,輪廓(kuo)測(ce)量(liang)評(ping)價軟件 ?具有自(zi)動保(bao)存功能(neng)的PDF打印機 ?帶自動探(tan)測功能的電動測量立(li)柱wavelift™400 ?帶增量值光柵(zha)尺的進給裝(zhuang)置(zhi)waveline™120advanced ?進給裝(zhuang)置的(de)傾(qing)斜(xie)和(he)緊(jin)固單元,回轉(zhuan)范圍±45°,精回轉(zhuan)范圍±5° ?帶(dai)10mm T槽的硬巖石板 ?TKU300/600測頭一套,包含4個探針 ?固定測頭支架FHZ ?粗糙度標準塊RNDH2 ?wavecontour™digital或digiscan輪(lun)廓傳感(gan)器,包含硬質合金探(tan)測頭的測頭臂 ?用(yong)于(yu)緊固工件的測(ce)量臺MT1 XYO(也可以(yi)不選(xuan)) ?校準用附件(jian)一套(tao)
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型(xing)號(hao) | T8000RC digital | T8000RC digisacn |
測量范圍 | R:±300μm or 600μm
C:60mm | R:±300μm or 600μm
C:60/90mm |
zui小分辨率(lv) | R:1nm or 2nm; C:50nm | R:1nm or 2nm;C:50/75nm |
測(ce)力設置 | 手動 | 電子 |
水(shui)平測量范圍(wei)/水(shui)平分辨率 | 120mm/0.1μm | 120mm/0.1μm |
內/外探測 | - | 可選(xuan) |
測量立柱行程 | 400mm | 400mm |
硬巖石板 | 780x500mm | 780x500mm |
可拓展配置1000X500mm底座或800mm測量立(li)柱 |